北京可靠性试验及电磁兼容检测中心为您提供各类电工电子设备、电路板、板卡、轨道交通设备、仪器仪表、测量仪器、汽车电子设备等各类产品提供温循试验、温度循环试验、快速温度变化试验，出具CNAS检测报告，CMA测试报告，环境试验认证报告等。
温度循环试验，目的是检验样品在温度剧变时长时间储存和工作的抵抗能力。
试验条件
样品应在规定条件下连续完成规定的循环次数。高低温箱中的空气温度从热到冷或从冷到热的温变
速率（1°C±0.2℃）/min，且最后半个循环必须是从高温到室温。具体条件如下：
1）试验准备条件：在实验室温度为20°C±2℃存放1h，使温度趋于稳定；
2）试验条件：试验期间，被试设备持续通电，维持工作条件，影响量设为其对应基准条件；
3）温度条件：-10°C ~55°C，高低温极限辖各停留3h，循环5 次。
4）恢复过程：恢复1h，进行功能试验。
试验方法
试验方法按照GB/T 2423.22-2002 方进行。
温度循环试验分为普通温度循环试验和快速温度变化试验，普通温度循环试验一般规定温变速率在1℃/分钟，快速温度变化循环试验规定为5℃/分钟以上。
温度循环试验的目的是测定试件承受极端高温和极端低温的能力，以及极端高温与极端低温交替变化对元器件的影响，试件应在规定条件下连续完成规定的循环次数，试验结束后在任何规定测量或检验（功能试验）不合格，外壳、引线或封口的缺陷或损坏现象，或者标识模糊，均应视为无效。
温度循环试验一般规定一个试验条件A至少循环多少次（例如规定试验条件A一般为低温-40℃，高温70℃），每个温度下保持30min~60min，并规定从热到冷或从冷到热的转换时间。
